Endüktans kararı

Oct 18, 2019|

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd(SCitec), telefon aksesuarları üretimi ve satışı konusunda uzmanlaşmış bir yüksek teknoloji kuruluşudur. Ana ürünlerimiz seyahat şarj cihazlarını, araç şarj cihazlarını, USB kablolarını, güç bankalarını ve diğer dijital ürünleri içerir. Tüm ürünler benzersiz stillere sahip, güvenli ve güvenilirdir. Ürünler CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick vb. gibi sertifikaları geçer. , İlgileniyorsanız doğrudan ceo@schitec.com ile iletişime geçebilirsiniz. 

SChitec ile Güvenle Şarj Edin

Endüktans kararı

1. Endüktans ölçümü: Multimetreyi sesli diyota çevirin ve multimetrenin okumasını görmek için test uçlarını iki pimin üzerine yerleştirin.

2. İyi veya kötü karar: Çip indüktörü için bu andaki okuma sıfır olmalıdır. Multimetre okuması çok büyük veya sonsuzsa endüktans zarar görür.

İndüktör bobininin dönüş sayısı için bobinin bobin çapı birkaç on ila yüzlerce kat olacaktır. Genellikle bobinin DC direnci yalnızca birkaç ohmdur. Hasar, sıcak veya endüktif manyetik halkada bariz bir hasar olarak kendini gösterir. İndüksiyon bobini ciddi şekilde hasar görmemişse ve belirlenemiyorsa, endüktans endüktans ölçer ile ölçülebilir veya değiştirme yöntemiyle değerlendirilebilir.

Önlemler

1. Endüktif bileşenler, çekirdek ve sargı, sıcaklık artış etkisi nedeniyle kolayca değiştirilebilir. Vücut sıcaklığının spesifikasyon aralığında olması gerektiğine dikkat edilmelidir.

İkincisi, indüktörün sargısı, akım geçtikten sonra kolaylıkla bir elektromanyetik alan oluşturur. Bileşenin konumu yerleştirilirken, karşılıklı endüktansı azaltmak için bitişik indüktörlerin birbirinden uzak tutulmasına veya sarım gruplarının birbirine dik açıda olmasına dikkat edilmelidir.

3. İndüktör katmanlarının sargıları, özellikle de çok turlu ince teller aynı zamanda boşluk kapasitansı üretecek ve bu da yüksek frekanslı sinyal bypassına neden olacak ve indüktörün gerçek filtreleme etkisini azaltacaktır.

4. Endüktans değerini ve Q değerini ölçüm cihazıyla test ederken, doğru verileri elde etmek için test uçları bileşen gövdesine mümkün olduğunca yakın olmalıdır.


Soruşturma göndermek